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水稻表型检测系统
水稻育种研究中,水稻表型参数至关重要,这些参数与水稻的产量和品质密切相关,进而获取这些参数也显得尤为重要,因此我们推出了水稻表型检测仪。 水稻表型检测系统可测量水稻株高、夹角、茎粗、水稻亩穗数、理论产量、水稻穗粒数、一/二次枝梗数量和长度、各枝梗穗粒数、着粒密度、穗长、总粒数和千粒重等指标,这些表型参数为水稻品种筛选、水稻产量预测、稻穗动态发育、基因定位、功能解析和水稻遗传育种中发挥着至关重要的作用。
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玉米表型检测系统
玉米育种研究中,玉米表型参数和玉米产量、品质、抗逆性等密切相关,进而获取这些参数也显得尤为重要,因此我们推出了玉米表型检测系统TPY-BX-1。此玉米表型性状检测系统不仅可以测量凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角投影面积、株高、茎秆节间距和茎粗、叶长、叶片弯曲度、茎叶夹角和千粒重等指标,这些高通量表型参数为玉米品种筛选、产量预测、基因定位、功能解析等方面发挥着至关重要的作用。
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小麦表型检测系统
小麦育种研究中,小麦表型参数至关重要,这些参数与小麦的产量和品质密切相关,进而获取这些参数也显得尤为重要,因此我们推出了小麦表型检测仪。TPM-BX-1小麦表型检测系统可测量小麦株高、夹角、茎粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标,这些表型参数为小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种中发挥着至关重要的作用。
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大豆表型检测系统
大豆育种研究中,大豆表型参数和大豆产量、品质、抗逆性等密切相关,进而获取这些参数也显得尤为重要,因此我们推出了大豆表型检测系统。大豆表型检测系统可以测量大豆夹角、茎粗、总粒数和千粒重等指标,这些高通量表型参数为大豆品种筛选、产量预测、基因定位、功能解析等方面发挥着至关重要的作用。