大豆表型检测仪
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产品介绍:

大豆育种研究中,大豆表型参数和大豆产量、品质、抗逆性等密切相关,进而获取这些参数也显得尤为重要,因此我们推出了大豆表型检测系统。TPD-BX-1大豆表型检测仪可以测量大豆夹角、茎粗、总粒数和千粒重等指标,这些高通量表型参数为大豆品种筛选、产量预测、基因定位、功能解析等方面发挥着至关重要的作用。

 

功能特点:

  • 原位非破坏性测量:大豆表型检测系统可实现大豆植株非破坏性的测量,便于对大豆各个生育时期夹角的动态研究。
  • 数据互联互通:轻量级移动端进行数据采集,数据时采时分析。各模块数据高效实时互联互通,提高数据的高度融合性。
  • 品种名称批量添加:可批量添加品种名称,解决用户材料多,单个输入较为繁琐的问题。
  • 比例尺自动矫正:任意手机可拍照,且拍摄成像视角可以被自动矫正,避免了拍照变形误差。
  • 智能修正:触摸屏幕可进行修正,使结果更精准,可达100%。
  • 数据查看:数据查看多样化,拍照分析后即可查看结果,也可在历史记录中查看数据报表。
  • 数据导出:支持数据修正、查询、编辑和导出,数据可导出Excel格式,并可分享至微信、QQ或者钉钉,便于多应用方式查看数据。

大豆表型检测仪

大豆夹角测量

 

大豆表型检测仪

大豆数粒

 

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